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各类封装测试治具，绝缘材料使用德国进口PPS，探针寿命可达到10-20万次，探针压力20g/根
| Pith e(mm) | Pin Cout | Package Size(mm) | Part Number | Clamshell/Open top |
| 0.8 | 178 | 11.5x11 | LPDDR 178测试架 | 合金翻盖 |
| 0.4 | 168 | 10*13 | BGA168测试架 | Open top |
| 0.4 | 64 | 10*13 | U盘测试治具 | Open top |
| 0.65 | 200 | 14.5X10、15X10 | BGA200测试治具 | 合金翻盖 |
| 0.4 | 64 | 10*13 | 路由器芯片测试治具 | Open top |
| 0.5 | 221 | 13*11.5 | eMCP221芯片测试治具 | Open top |
| 0.5 | 221 | 13*11.5 | EMCP221测试解决方案 | 合金翻盖 |
| 0.5/0.4 | 236 | 13*11.5 | UFS测试治具 | 合金翻盖 |
